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基于线阵CCD回转体尺寸测量技术的研究
资料介绍
物体几何尺寸的精密测量在检测技术中是一个应用十分普遍且有实际应用价值的问题。利用CCD测量具有无接触、准确度高、便于计算机处理、易于和自动控制设备连接等一系列优点。 本文介绍了一种利用线阵CCD-TCD2901D精确测量回转体直径尺寸的系统。该仪器综合光学子系统，线阵CCD传感器，FPGA信号采集与处理系统，ARM单片机控制系统，MATLAB信号处理软件等几部分共同对回转体直径进行标定与测量。 该系统分别应用基于可编程逻辑器件FPGA，ARM单片机和基于数学处理软件MATLAB的计算机软件处理方法对回转体直径进行校准和测量。在FPGA，ARM共同组成的采集系统中对线阵CCD所输出信号进行采集和传输，而在基于数学分析软件MATLAB的对采集信号处理中应用了OSTU阈值法对所采集数据进行二值化处理来确定测量边界，并求得测量结果。
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| 基于线阵CCD回转体尺寸测量技术的研究.pdf | 3M |
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