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基于STM32的光敏传感器实验
资料介绍
光敏电阻是一种光电效应半导体器件,它能提供很经济实用的解决方案,应用于光存在 与否的感应(数字量)以及光强度的测量(模拟良)等领域。 光电效应半导体探测器可以分为两大类:结和体效应装置。结装置,工作于光电传导模 式,它利用 PN 结的反向特征。在反向偏转时,PN 结产生一个受光控制的电流信号。输出量 与触发照明成正比,而不受供应电源的影响。硅光电管就是这类的产品。而体效应光电半导 体没有结,它的体电阻系数随照明强度的增强而减小,容许更多的光电流流过。这种阻性特 征使得体效应光电半导体具有很好的品质:通过调节供应电源就可以从探测器上获得信号流, 且有着很宽的范围。为了区别,珀金埃尔默光电子将体效应光电半导体称作为光电半导体单 元,简单的说就叫光敏电阻。 光敏电阻是薄膜元件,它是由在陶瓷底衬上覆一层光电半导体材料。金属接触点盖在光 电半导体面下部。这种光电半导体材料薄膜元件有很高的电阻。所以在两个接触点之间,做 的狭小、交叉,使得在适度的光线时产生较低的阻值。
部分文件列表
文件名 | 大小 |
STM32F407实验 光敏传感器实验/ | |
STM32F407实验 光敏传感器实验/CORE/ | |
STM32F407实验 光敏传感器实验/CORE/core_cm4.h | |
STM32F407实验 光敏传感器实验/CORE/core_cm4_simd.h | |
STM32F407实验 光敏传感器实验/CORE/startup_stm32f40_41xxx.s | |
STM32F407实验 光敏传感器实验/FWLIB/ | |
STM32F407实验 光敏传感器实验/FWLIB/inc/ | |
STM32F407实验 光敏传感器实验/FWLIB/inc/misc.h | 7KB |
STM32F407实验 光敏传感器实验/FWLIB/inc/stm32f4xx_adc.h | |
STM32F407实验 光敏传感器实验/FWLIB/inc/stm32f4xx_can.h | |
STM32F407实验 光敏传感器实验/FWLIB/inc/stm32f4xx_crc.h | 2KB |
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