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可编程逻辑器件PLD及模拟术语表
资料介绍
Architecture（结构）：可编程集成电路系列的通用逻辑结构。 ASIC（Application Specific Integrated Circuit－专用集成电路）：适合于某一单一用途的集成电路产品。 ATE（Automatic Test Equipment－自动测试设备）：能够自动测试组装电路板和用于莱迪思 ISP 器件编程的设备。 BGA（Ball Grid Array －球栅阵列）：以球型引脚焊接工艺为特征的一类集成电路封装。可以提高可加工性，减小尺寸和厚度，改善了噪声特性，提高了功耗管理特性。 Boolean Equation（逻辑方程）：基于逻辑代数的文本设计输入方法。 Boundary Scan Test（边界扫描测试）：板级测试的趋势。为实现先进的技术所需要的多管脚器件提供了较低的测试和制造成本。 Cell-Based PLD（基于单元的可编程逻辑器件）：混合型可编程逻辑器件结构，将标准的复杂的可编程逻辑器件（CPLD）和特殊功能的模块组合到一块芯片上。
部分文件列表
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| 可编程逻辑器件PLD及模拟术语表.doc | 67K |
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