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应对多样化数字接口测试挑战的解决方案——基于可编程FPGA的测试仪器

2017-10-12 16:25:34 大小:1M 上传用户:StoneMei 浏览次数:79 下载积分:0分 下载次数:5 标签:Fpgaquartus虹科电子数字测试总线接口 评价赚积分 ( 如何评价赚积分?) 出售积分赚钱

资料说明

现今,电子测试工程师面临着大量多样化的数字接口带来的挑战。军事、航空、通信和汽车电子都同时使用工业标准和定制数字接口。专用特定接口的测试仪器和用于通用数字I/O接口的测试仪器可以支持以上大部分接口。专用测试仪器是非常昂贵的,通用数字I/O接口的测试仪器仅试用部分方案并且需要大量编程/调试工作,最终也会增加成本。然而,基于可编程FPGA的测试仪器可以提供成本合理的解决方案,并可选通用数字I/O接口还是专用特定接口。 本文将概述现代数字测试接口的需求,重点讲解在电子模块和系统的监视和控制中应用越来越普遍的串行数字接口。这些接口包括定制和工业标准版本,例如SPI、I2C、RapidIO、Ethernet和SpaceWire等。对于高速串行接口,带有特定接口的SERDES的使用和功能逻辑可以提供创建满足需求的测试仪器的基础。本文将会讲述当结合可用的商用IP(Intellectual Property)或定制的逻辑单元时,基于可编程FPGA的测试仪器如何提供低成本、高灵活性的测试方案,此种测试仪器解决方案将实现单台仪器支持多种应用和多种接口。

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全部评论 共有 2 条评论

  • 2017-10-16 21:52:22vdhbt

    好资料

  • 2017-10-13 08:21:28rclong

    我觉得还能写得更详细一点