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用于微弱信号检测的改进 Duffing 混沌电路性能分析
资料介绍
针对已有 Duffing 混沌电路仅适用于低频微弱信号检测的问题，提出一种改进 Duffing 混沌电路，并在虚拟电子工作平台( Multisim) 软件中用实际电子器件实现了该电路。适当调整该电路的参数，可实现从低频到高频的微弱信号检测。另外，通过 Multisim 仿真，对该电路在较高频率下检测微弱信号的性能进行研究。仿真研究表明: 该电路对初始值非常敏感，当正弦信号的幅值稍微增加，电路就发生混沌态到大尺度周期态的临界相变，可进行较高频率下的微弱信号检测。通过加入热噪声，分析电路在噪声背景下检测微弱信号的能力，并求取了信噪比。对仿真结果分析发现:随着临界阈值精确度的增加，也即检测精确度的增加，信噪比越来越低的现象。
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| 7f63b868-e784-4ded-a539-2f1e2589d652.pdf | 559K |
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