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本文详细介绍了基于DCC和JTAG的删硬件仿真调试器的研究与设计过程
资料介绍
本文详细介绍了基于DCC和JTAG的删硬件仿真调试器的研究与设计 过程。该硬件仿真调试器除了具有下载、断点、单步运行、连续运行、读写内存区域和对寄存器操作等基本调试功能外，还有通过使能DCC通道，来进行快速对目标机内存读写的功能。因为读写内存是调试过程中最常用的功能，这样就大大地提高了调试的效率。文中，首先对嵌入式系统开发和嵌入式调试器进行了全面的介绍。然后对当前嵌入式调试中应用最为广泛的JTAG技术和删中的 JTAG原理作了详细介绍。接着对删片上调试原理进行了深入分析。最后， 深入阐述了L锄bdaICE的设计、实现和测试过程。
部分文件列表
| 文件名 | 文件大小 | 修改时间 |
| 于DCC和JTAG的ARM硬件仿真调试器的研究与实现.pdf | 2123KB | 2010-12-11 14:37:46 |
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