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光敏二极管的可靠性和寿命分析
资料介绍
光敏二极管的基本工作原理，失效现象及失效原因
在大量实验的基础上，通过理论分析和数据处理，采用威布尔概率纸图估法，评估了为某种设备的 特殊需要生产的一种新型硅光电探测器的可靠性和寿命。在正常工作条件（!"" %）时，器件的平均寿命 为 &’"( ) &"* +；在 (" ,时，器件的失效率等级达到国家标准规定 - 级。详细分析了光敏二极管的失效 模式及失效机理，提出了提高光敏二极管的可靠性和寿命的措施
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| 文件名 | 大小 |
| 2-光敏二极管的失效分析.pdf | 95K |
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